Схема высокоскоростного тестирования и упаковки полупроводниковых деталей в транспортировочную ленту
Точное позиционирование по отверстиям транспортировочной ленты, высокоточный подсчет изделий, возможность простого расширения функций контроля
Собственная разработанная система визуального контроля, позволяющая проводить проверку по множеству параметров
Удобная настройка рабочих параметров, функция самодиагностики неисправностей, четкая индикация возникших ошибок
Независимое регулирование температуры по алгоритму PID, оптимально подходит для работы с различными материалами упаковки